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    更新時間:2025-07-03
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    高溫冷熱沖擊試驗設備適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C408L冷熱沖擊試驗箱

    408L冷熱沖擊試驗箱適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
    3AP-CJ-150Csop封裝高低溫沖擊試驗箱

    sop封裝高低溫沖擊試驗箱適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
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    冷熱沖擊循環試驗設備適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C超快速冷熱沖擊試驗設備

    超快速冷熱沖擊試驗設備適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C超快速冷熱沖擊試驗機

    超快速冷熱沖擊試驗機適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C高低溫沖擊試驗機器

    高低溫沖擊試驗機器適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
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    更新時間:2025-07-03
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    冷熱驟變實驗箱適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
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    更新時間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊試驗設備品牌廠家

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    更新時間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊試驗設備廠家

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    更新時間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊試驗儀器廠家

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    更新時間:2025-07-03
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊試驗箱廠家

    冷熱沖擊試驗箱廠家適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A深圳實驗室高低溫沖擊箱

    深圳實驗室高低溫沖擊箱適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
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    冷熱沖擊試驗箱廠家直銷適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
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    北京冷熱沖擊高低溫試驗儀適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
    3AP-CJ-80A半導體冷熱沖擊高低溫試驗儀

    半導體冷熱沖擊高低溫試驗儀適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
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    半導體冷熱沖擊高低溫試驗箱適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2025-07-03
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